bt151可控硅好坏怎样测量

可控硅的好坏可以通过以下几个方面来测量:

1. 阻抗特性:使用LCR表测试可控硅的阻抗,测试频率一般选择工频50Hz或者60Hz。良品的可控硅阻抗应在几十欧姆到几百欧姆之间,阻抗值较小表示可控硅的导通能力较强,质量较好。如果阻抗值过大,可能表示可控硅有问题。

2. 导通电流:使用稳定的工频电压源,测试可控硅的导通电流。质量好的可控硅,其导通电流应不小于额定电流,并且导通时电流稳定。如果导通电流过小或不稳定,表示可控硅有问题。

3. 导通电压:测试可控硅的导通电压,电压应在可控硅的额定范围内,质量好的可控硅其导通电压较稳定。如果导通电压超出范围或不稳定,可控硅可能有问题。

4. 导通时间:测试可控硅导通后所需的时间,质量好的可控硅其导通时间应短,一般在50ms以内。导通时间过长可能表示可控硅有老化或者其他问题。

5. 密封性:对可控硅进行高压泄漏测试,测试电压至少为额定电压的2-3倍。如果存在较大的泄漏电流,表示可控硅的绝缘存在问题,密封性较差。

综上,通过测试可控硅的阻抗、导通电流、导通电压、导通时间和密封性几个方面,可以比较全面地判断可控硅的好坏。测试值应符合可控硅的技术参数,且测试结果应稳定可重复。如果测试结果不正常,表示可控硅可能有质量问题。